Aviso importante
SEM (Microscopía Electrónica de Barrido) JEOL JSM 6380LV
Filamento: Emisor filamento de Tungsteno
Resolución: 3.0nm a 30kv
Detectores Disponibles:
Detector de electrones secundarios SE
Detector de electrones retrodispersados
Detector de análisis por EDS, Oxford Instruments
X-Max 20, software Aztec One 4.2 SP1.
HR-TEM (Microscopía Electrónica de Transmisión de Alta Resolución) JEOL JEM 2010
Filamento: Emisor de LaB6
Resolución: 0.23nm
Detector STEM: Campo claro, campo oscuro
Difracción: SAD, NBD y CBD
Cámara GATAN CCD Ultra Scan 16MP
TEM (Microscopía Electrónica de Transmisión JEOL JEM 1200EX II
Filamento: Emisor de Tungsteno
Resolución: 0.3nm
Voltaje: 30-120Kv
Difracción: SAD.
Cámara Gatan Modelo 782